-
中文图书1.用于集成电路仿真和设计的FinFET建模:基于BSIM-CMG标准 TN402/4102
馆藏复本:8
可借复本:8 (印度) 尤盖希·辛格·楚罕 ... [等] 著
机械工业出版社 2020
(0) 馆藏 -
中文图书2.纳米级集成电路系统电源完整性分析 TN710.02/451
馆藏复本:2
可借复本:2 (日)桥本正德,(美)拉杰·耐尔(Raj Nair)等著
机械工业出版社 2017
(0) 馆藏