-
中文图书1.SOC测试 TN407/120
馆藏复本:3
可借复本:3 雷绍充 ... [等]编著
西安交通大学出版社 2012.1
(0) 馆藏 -
中文图书2.超大规模集成电路测试 TN470.7/120
馆藏复本:5
可借复本:5 雷绍充, 邵志标, 梁峰编著
电子工业出版社 2008
(1) 馆藏 -
中文图书3.VLSI测试方法学和可测性设计 TN47/120
馆藏复本:6
可借复本:5 雷绍充等著
电子工业出版社 2005.1
(0) 馆藏