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检索到 2 条 责任者=Chakrabarty, Krishnendu, 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits / TN432/BG2

    馆藏复本：1
    可借复本：0     editors, Sandeep K. Goel, Krishnendu Chakrabarty.
    CRC Press, c2014.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics / TN431.2/BP2

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Philip Y. Paik, Krishnendu Chakrabarty, Vamsee K. Pamula.
    Artech House ; 2007.
    (0) 馆藏

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