检索到 8 条 分类号=TN304.07 的结果
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中文图书1.硅材料检测技术 TN304.07/122
馆藏复本：2
可借复本：2 王体虎，魏东亮，宗冰著
黄河水利出版社 2019
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中文图书2.半导体材料测试与分析 TN304.07/422
馆藏复本：4
可借复本：3 杨德仁等著
科学出版社 2010
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中文图书3.半导体的检测与分析-2版 TN304.07/354
馆藏复本：3
可借复本：2 许振嘉主编
科学出版社 2007
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西文图书4.Proceedingsof the Institute TN304.07/N1
馆藏复本：1
可借复本：1 NATO ASINESMD
Plenum Pr. 1979
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中文图书5.半导体材料电磁参数的测量 TN304.07/520
馆藏复本：3
可借复本：0 （美）威特著；李达汉译
计量出版社 1986.10
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中文图书6.半导体实验教程∶基础部分 TN304.07/819
馆藏复本：2
可借复本：0 郑云光主编
天津大学出版社 1989.12
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中文图书7.半导体的检测与分析 TN304.07/562
馆藏复本：3
可借复本：0 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著
科学出版社 1984.5
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中文图书8.半导体测试技术原理与应用 TN304.07/003
馆藏复本：13
可借复本：7 刘新福, 杜占平, 李为民编著
冶金工业出版社 2007.1
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