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中文图书1.电子元器件的可靠性 TN306/450
馆藏复本:3
可借复本:0 李哲等编著
天津大学出版社 1991.10
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中文图书2.半导体器件可靠性 TN306/972
馆藏复本:5
可借复本:0 《半导体可靠性》编写组编
国防工业出版社 1978.
(0) 馆藏
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西文图书3.Proceedings of the ... TN306-53/I3
馆藏复本:1
可借复本:1 ICMTS
IEEE Pr. c1991
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西文图书4.The Reliability Handbook , V.1 TN306/N1
馆藏复本:1
可借复本:1 NSC
the Corporation 1982
(0) 馆藏
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中文图书5.电子元器件的可靠性 TN306/425
馆藏复本:4
可借复本:0 李能贵著
西安交通大学出版社 1990.6
(0) 馆藏
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西文图书6.Proceedings of the .... TN306-53/I2
馆藏复本:1
可借复本:1 IEEE ICMTS
IEE c1986
(0) 馆藏
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西文图书7.Proceeings of the ... TN306-53/I1
馆藏复本:1
可借复本:1 ICMTS
IEEE c1989
(0) 馆藏