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检索到 4 条 分类号=TN406 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Micro and nano mechanical testing of materials and devices / TN406/BY1

    馆藏复本：1
    可借复本：1     [edited by] Fuqian Yang, James C.M. Li.
    Springer, 2008.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Selected Reliability Topics , Phoenix , Integrated Circuit Engineering Corporation TN406/II1

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Integrated Circuit Engineering Corporation
     1968
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.集成电路使用可靠性指南 TN406/134

    馆藏复本：2
    可借复本：0     邓永孝，田锡进著
     
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.微电子器件应用可靠性技术 TN406/001

    馆藏复本：3
    可借复本：1     庄奕琪主编
    电子工业出版社 1996.5
    (0) 馆藏

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