检索到 26 条 分类号=TN407 的结果
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中文图书1.集成电路测试原理 TN407/442
馆藏复本：3
可借复本：2 戴志坚, 王厚军主编
电子科技大学出版社 2023
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中文图书2.伪集成电路检测与防护:detection and avoidance TN407/268
馆藏复本：4
可借复本：4 (美) 马克 (穆罕默德)·德黑兰尼普尔, 乌杰瓦尔·吉恩, 多梅尼克·福特著
国防工业出版社 2022
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中文图书3.集成电路测试基础 TN407/2201
馆藏复本：4
可借复本：3 佛山市联动科技股份有限公司编著
电子工业出版社 2022
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中文图书4.集成电路验证 TN407/332
馆藏复本：2
可借复本：2 沈海华，张锋，乐翔著
科学出版社 2019
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中文图书5.芯片验证漫游指南:从系统理论到UVM的验证全视界 TN407/000
馆藏复本：3
可借复本：3 刘斌著
电子工业出版社 2018
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中文图书6.微电子设备防雷 TN407/702
馆藏复本：2
可借复本：2 编著周文俊, 李涵
中国电力出版社 2016
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中文图书7.集成电路认证:硬件木马与伪芯片检测:hardware trojans and counterfeit detection TN407/238
馆藏复本：2
可借复本：2 (美) Mohammad Tehranipoor, Hassan Salmani, Xuehui Zhang著
国防工业出版社 2016
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中文图书8.物联网测控集成电路 TN407/426
馆藏复本：2
可借复本：2 赵负图主编
化学工业出版社 2014
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中文图书9.集成电路芯片测试 TN407/140
馆藏复本：2
可借复本：2 王芳，徐振主编
浙江大学出版社 2014
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中文图书10.SOC测试 TN407/120
馆藏复本：3
可借复本：3 雷绍充 ... [等]编著
西安交通大学出版社 2012.1
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中文图书11.微电子计量测试技术 TN407/343
馆藏复本：5
可借复本：5 沈森祖主著
西北工业大学出版社 2009
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西文图书12.Verification of systems and circuits using LOTOS, Petri Nets, and CCS / TN407/BY1
馆藏复本：1
可借复本：1 by Michael Yoeli and Rakefet Kol.
Wiley-Interscience, c2008.
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中文图书13.最新集成电路测试技术 TN407/050
馆藏复本：6
可借复本：6 高成, 张栋, 王香芬编著
国防工业出版社 2009
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中文图书14.SystemVerilog验证方法学 TN407/244.2
馆藏复本：4
可借复本：3 伯杰龙Janick Bergeron[等]著
北京航空航天大学出版社 2007
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西文图书15.ICMTS 94 : Proceedings TN407-53/I2
馆藏复本：1
可借复本：1 International conference
British Columbia 1994.
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中文图书16.万用表速测集成电路数据大全 TN407/510
馆藏复本：5
可借复本：0 《电子文摘报》编辑部编
电子科技大学出版社 1992.10
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中文图书17.常用集成电路实测数据手册 TN407-62/483
馆藏复本：2
可借复本：1 蒋颂军，何晓帆主编
化学工业出版社 2005.3
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中文图书18.编写测试平台:HDL模型的功能验证-第2版 TN407/244
馆藏复本：5
可借复本：4 (美)Janick Bergeron著
电子工业出版社 2006.8
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西文图书19.Introduction to Digital Board Testing TN407/B1
馆藏复本：1
可借复本：1 Bennetts , R.G.
Crane Russak 1981
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中文图书20.国内外常用集成电路应急修理技巧333例 TN407/496
馆藏复本：3
可借复本：0 袁光明编著
电子科技大学出版社 1992.5
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