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中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/5422
馆藏复本:2
可借复本:2 (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel),(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编
机械工业出版社 2016
(0) 馆藏
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中文图书2.纳米级CMOS超大规模集成电路可制造性设计 TN432.02/140
馆藏复本:2
可借复本:2 (美) Sandip Kundu, (印) Aswin Sreedhar著
科学出版社 2014
(0) 馆藏
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中文图书3.纳米CMOS集成电路:从基本原理到专用芯片实现:from basics to ASICs TN432/262
馆藏复本:4
可借复本:4 (荷兰) Harry Veendrick著
电子工业出版社 2011
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