检索到 1 条 主题词=CMOS电路 主题=缺陷检测 的结果
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中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/5422
馆藏复本：2
可借复本：2 (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编
机械工业出版社 2016
(0) 馆藏
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可借复本：2 (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编
机械工业出版社 2016
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