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中文图书1.微纳米MOS器件可靠性与失效机理 TN4/460.2
馆藏复本:3
可借复本:2 郝跃, 刘红侠著
科学出版社 2008
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中文图书2.微系统封装技术概论 TN405/815
馆藏复本:5
可借复本:4 金玉丰, 王志平, 陈兢编著
科学出版社 2006.3
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馆藏复本:3
可借复本:2 郝跃, 刘红侠著
科学出版社 2008
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馆藏复本:5
可借复本:4 金玉丰, 王志平, 陈兢编著
科学出版社 2006.3
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