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中文图书1.压接型IGBT器件封装可靠性建模与测评 TN386.205.94/490
馆藏复本:3
可借复本:2 李辉 ... [等] 著
科学出版社 2023
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中文图书2.可靠性试验技术.第2版 TB302/878/2
馆藏复本:4
可借复本:4 王晓红等编著
北京航空航天大学出版社 2022
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中文图书3.纯电动汽车IGBT可靠性及健康管理研究 TN386.2/622
馆藏复本:3
可借复本:2 吴华伟, 叶从进, 张远进著
中国水利水电出版社 2019
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中文图书4.单块微电路可靠性手册.下册 TN430.6/231
馆藏复本:1
可借复本:0 上海无线电十九厂编辑
上海无线电十九厂 1973
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中文图书5.可靠性与寿命试验 TJ01/878
馆藏复本:2
可借复本:2 主编姜同敏
国防工业出版社 2012
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中文图书6.可靠性试验技术 TB302/878
馆藏复本:3
可借复本:3 姜同敏 ... [等] 编著
北京航空航天大学出版社 2012
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中文图书7.可靠性强化试验理论与应用 TB114.3/374
馆藏复本:5
可借复本:2 温熙森, 陈循, 张春华著
科学出版社 2007
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中文图书8.电子元器件可靠性试验工程 TN606/610
馆藏复本:4
可借复本:3 罗雯等编著
电子工业出版社 2005.3
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