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中文图书1.电子元器件可靠性设计 TN602/149
馆藏复本:5
可借复本:5 王蕴辉,于宗光,孙再吉主编
科学出版社 2007
(0) 馆藏 -
中文图书2.电子产品可靠性预计 TN606/146
馆藏复本:5
可借复本:4 张增照, 潘勇著
科学出版社 2007
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馆藏复本:5
可借复本:5 王蕴辉,于宗光,孙再吉主编
科学出版社 2007
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馆藏复本:5
可借复本:4 张增照, 潘勇著
科学出版社 2007
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