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检索到 3 条 丛书名=Frontiers in electronic testing ; 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Testing static random access memories : defects, fault models, and test patterns / TP333.8/BH1

    馆藏复本：1
    可借复本：1     by Said Hamdioui.
    Kluwer Academic, 2004.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Fault diagnosis of analog integrated circuits / TN431.1/K1

    馆藏复本：1
    可借复本：1     by Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua and Satyabroto Sinha.
    Springer, c2005.
    (0) 馆藏

  3. 西文图书3.Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization / TN4/L6

    馆藏复本：1
    可借复本：1     by Erik Larsson.
    Springer, 2005.
    (0) 馆藏

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