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中文图书1.超大规模集成电路测试 TN470.7/120
馆藏复本:5
可借复本:5 雷绍充, 邵志标, 梁峰编著
电子工业出版社 2008
(1) 馆藏 -
中文图书2.超大规模集成电路测试:For Digital Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits TN470.7/424
馆藏复本:4
可借复本:3 (美)布什内尔(Michael L.Bushnell), (美)Vishwani D.Agrawal著
电子工业出版社 2005.8
(0) 馆藏