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中文图书1.温度对微电子和系统可靠性的影响 TN4/520
馆藏复本:5
可借复本:4 (美)Pradeep Lall,(美)Michael G. Pecht,(美)Edward B. Hakim著
国防工业出版社 2008
(0) 馆藏
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可借复本:4 (美)Pradeep Lall,(美)Michael G. Pecht,(美)Edward B. Hakim著
国防工业出版社 2008
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