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检索到 2 条 题名=Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits / 的结果    

 


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  1. 中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/5422

    馆藏复本：2
    可借复本：2     (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编
    机械工业出版社 2016
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits / TN432/BG2

    馆藏复本：1
    可借复本：0     editors, Sandeep K. Goel, Krishnendu Chakrabarty.
    CRC Press, c2014.
    (0) 馆藏

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