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检索到 1 条 题名=Testing static random access memories : 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Testing static random access memories : defects, fault models, and test patterns / TP333.8/BH1

    馆藏复本：1
    可借复本：1     by Said Hamdioui.
    Kluwer Academic, 2004.
    (0) 馆藏

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