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• 001 0000518246

• 005 20140508141300.0

• 010 __ |a 978-7-302-34026-3 |d CNY29.00

• 100 __ |a 20140123d2014 em y0chiy0110 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 测试成熟度模型集成 |A ce shi cheng shou du mo xing ji cheng |b 专著 |e 测试过程改进指南 |f Erik van Veenendaal，Brian Wells著 |g 李燕[等]译

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2014

• 215 __ |a 16,198页 |d 26cm

• 300 __ |a 21世纪高等学校规划教材·软件工程

• 304 __ |a 译者还有：刘峥、牟刚、彭月、吴溪

• 312 __ |a 书名原文：Test maturity model integration TMMi

• 330 __ |a 本书包括TMMi发布版1.0完整和详细的描述。全书由3部分组成，第一部分分为3章，第1章描述了TMMi的背景和历史，阐述了TMMi模型开发过程中的主要来源以及相应的范围；第2章提供了5个成熟级别的概览和描述，以及相关的过程域；第3章描述了TMMi过程域的所有组件。第二部分由16小节组成，每一个小节都是TMMi的一个过程域。第三部分由6项内容组成：关于TMMi基金会的介绍、关于作者的介绍、附录A、附录B、术语表和参考文献。

• 510 1_ |a Test maturity model integration TMMi |z eng

• 517 1_ |a 测试过程改进指南 |A ce shi guo cheng gai jin zhi nan

• 606 0_ |a 软件 |A Ruan Jian |x 测试 |x 研究

• 690 __ |a TP311.5 |v 5

• 701 _0 |a 温尼戴尔 |A wen ni dai er |c (Veenendaal, Erik van) |4 著

• 701 _0 |a 威尔 |A wei er |c (Wells, Brian) |4 著

• 702 _0 |a 李燕 |A li yan |4 译

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20140508

• 905 __ |a HDUL |d TP311.5/374

• 920 __ |a 233030 |z 1