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• 005 20081226131400.0

• 010 __ |a 978-7-5611-4138-0 |d CNY99.80

• 100 __ |a 20080731d2008 em y0chiy0121 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体材料与器件表征技术 |A Ban Dao Ti Cai Liao Yu Qi Jian Biao Zheng Ji Shu |d = Semiconductor material and device characterization |f (美)Dieter K. Schroder著 |F ( Mei )Dieter K. Schroder Zhu |g 大连理工大学半导体研究室译 |z eng

• 210 __ |a 大连 |c 大连理工大学出版社 |d 2008

• 215 __ |a 20, 542页 |c 图, 表 |d 24cm

• 320 __ |a 有书目(第530-540页)

• 330 __ |a 本书共10章，包括：电阻率，载流子和掺杂浓度，接触电阻、肖特基势垒及电迁移，串联电阻、沟道长度与宽度、阈值电压及热载流子等内容。

• 510 1_ |a Semiconductor material and device characterization |z eng

• 606 0_ |a 半导体材料 |A Ban Dao Ti Cai Liao |x 研究

• 606 0_ |a 半导体器件 |A Ban Dao Ti Qi Jian |x 研究

• 690 __ |a TN304 |v 4

• 701 _1 |c (美) |a 施罗德, |A Shi Luo De , |b D.K. |g (Schroder, Dieter K.) |4 著

• 712 02 |a 大连理工大学 |A Da Lian Li Gong Da Xue |b 半导体研究室 |4 译

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20081226

• 905 __ |a HDUL |d TN304/062

• 920 __ |a 233030 |z 1