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• 200 1_ |a CMOS集成电路闩锁效应 |A CMOS ji cheng dian lu shuan suo xiao ying |f 温德通编著

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2020

• 215 __ |a xvi, 230页 |c 彩图 |d 24cm

• 225 2_ |a IC工程师精英课堂 |A IC gong cheng shi jing ying ke tang

• 312 __ |a 英文并列题名取自封面

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书通过具体案例和大量彩色图片，对CMOS集成电路设计与制造中存在的闩锁效应(Latch-up)问题进行了介绍与分析。在介绍了CMOS集成电路寄生效应的基础上，先后对闩锁效应的原理、触发方式、测试方法、定性分析、改善措施和设计规则进行了讲解，随后给出了工程实例分析和寄生器件的ESD应用，为读者提供了一套理论与工程实践相结合的闩锁效应测试和改善方法。

• 410 _0 |1 2001 |a IC工程师精英课堂

• 510 1_ |a Latch-up in CMOS intergrated circuits |z eng

• 606 0_ |a CMOS电路 |A CMOS dian lu |x 静电防护 |x 电路设计

• 690 __ |a TN432.02 |v 5

• 701 _0 |a 温德通 |A wen de tong |4 编著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20200518

• 905 __ |a HDUL |d TN432.02/323

• 920 __ |a 233030 |z 1