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• 010 __ |a 978-7-121-27232-5 |d CNY88.00

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• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 可靠性物理 |A ke kao xing wu li |f 恩云飞, 谢少锋, 何小琦编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2015

• 215 __ |a XVI, 426页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A ke kao xing ji shu cong shu

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和失效物理模型。全书共13章, 前两章介绍可靠性物理及其发展现状, 并介绍了8类经典的失效物理模型及工程应用的意义 ; 后11章分别论述了微电子器件、微波器件、光电子器件等。

• 410 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian |x 可靠性

• 606 0_ |a 电子器件 |A dian zi qi jian |x 可靠性

• 690 __ |a TN6 |v 5

• 701 _0 |a 恩云飞 |A en yun fei |4 编著

• 701 _0 |a 谢少锋 |A xie shao feng |4 编著

• 701 _0 |a 何小琦 |A he xiao qi |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20151105

• 905 __ |a HDUL |d TN6/622

• 920 __ |a 233030 |z 1