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• 010 __ |a 978-7-03-026969-0 |b 精装 |d CNY135.00

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• 200 1_ |a Characterization of semiconductor heterostructures and nanostructures |d = 半导体异质结构与纳米结构表征 |f Carlo Lamberti著 |z chi

• 205 __ |a 影印版

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2010

• 215 __ |a 486页 |c 图 |d 25cm

• 225 2_ |a 科爱传播 |A Ke Ai Chuan Bo |i 化学化工

• 225 2_ |a 纳米科学进展系列 |A Na Mi Ke Xue Jin Zhan Xi Lie

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书主要讨论了用于确定半导体量子阱和超晶格结构性质（结构、物理、化学、电气等）的专门表征技术。此外，介绍了采用第一原理进行的模拟、建模方法，以及异质结构的电学与光学特性。

• 410 _0 |1 2001 |a 科爱传播 |i 化学化工

• 410 _0 |1 2001 |a 纳米科学进展系列

• 510 1_ |a 半导体异质结构与纳米结构表征 |z chi

• 606 0_ |a 半导体材料 |A Ban Dao Ti Cai Liao |x 异质结 |x 英文

• 606 0_ |a 半导体材料 |A Ban Dao Ti Cai Liao |x 纳米材料 |x 结构 |x 英文

• 690 __ |a TN304 |v 4

• 701 _1 |a 兰伯蒂 |A Lan Bo Di |g (Lamberti, Carlo) |4 著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20101009

• 905 __ |a HDUL |d TN304/8241

• 920 __ |a 233030 |z 1