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- 000 01198nam0 2200301 450
- 010 __ |a 978-7-04-052413-0 |b 精装 |d CNY129.00
- 100 __ |a 20191216d2019 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 透射电子显微学 |A tou she dian zi xian wei xue |h 下册 |f David B. Williams,C. Barry Carter著 |g 李建奇等译
- 210 __ |a 北京 |c 高等教育出版社 |d 2019
- 215 __ |a 649页 |c 图 |d 24cm
- 304 __ |a 英文共同题名:Transmission electron microscopy
- 330 __ |a 本书为透射电子显微学下册,内容包括第三章及第四章,第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术,以及对实验图像的处理、分析和理论模拟;第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用,以及与之相关的各种实验技术。
- 606 0_ |a 透射电子显微术 |A tou she dian zi xian wei shu
- 701 _0 |c (美) |a 威廉斯 |A wei lian si |c (Williams, David B.) |4 著
- 701 _0 |c (美) |a 卡特 |A ka te |c (Carter, C. Barry) |4 著
- 702 _0 |a 李建奇 |A li jian qi |4 译
- 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20200428
- 905 __ |a HDUL |d O766/504.2