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• 200 1_ |a 瞬时电离辐射效应 |A shun shi dian li fu she xiao ying |f 陈伟 ... [等] 著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2023

• 215 __ |a 208页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 辐射环境模拟与效应丛书 |A fu she huan jing mo ni yu xiao ying cong shu

• 304 __ |a 题名页题其余责任者: 王桂珍, 李瑞宾, 白小燕, 齐超, 李俊霖

• 306 __ |a 国家科学技术学术著作出版基金资助出版

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 瞬时电离辐射效应是电子系统最常见的一种辐射效应。瞬时电离辐射与半导体材料相互作用, 感生光电流, 改变器件及电路的特性和功能, 影响电子系统的可靠性。本书主要介绍核辐射环境及效应、模拟集成电路和大规模数字集成电路的瞬时电离辐射效应、瞬时电离辐射下的脉冲宽度效应、器件级及电路级仿真方法、瞬时辐射感生闩锁和阻锁、瞬时电离辐射效应试验技术、空间排序法在电子器件抗瞬时电离辐射性能评估中的应用。

• 410 _0 |1 2001 |a 辐射环境模拟与效应丛书

• 606 0_ |a 电离辐射 |A dian li fu she |x 辐射效应

• 690 __ |a O644.2 |v 5

• 701 _0 |a 陈伟 |A chen wei |4 著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20230912

• 905 __ |a HDUL |d O644.2/720

• 920 __ |a 233030 |z 1