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- 000 00514nam2 2200193 4500
- 010 __ |a 7-5083-1904-4 |d ¥48.00
- 200 1_ |a 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 |f (美)克鲁奇(Crouch,A.L.)著 |g |A SZJCDLYQ |F KLQ
- 210 __ |a 北京 |c 中国电力出版社 |d 2004.1
- 215 __ |a 348页 |c |d 23cm
- 701 _0 |a (美)克鲁奇(Crouch,A.L.)著 |A KLQ |4 著
- 905 __ |a HIEL |d TN431.2/424