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• 200 1_ |a 数字集成电路测试 |A shu zi ji cheng dian lu ce shi |e 理论、方法与实践 |f 李华伟等编著

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2024

• 215 __ |a 10,258页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 集成电路科学与技术丛书 |A Ji Cheng Dian Lu Ke Xue Yu Ji Shu Cong Shu

• 330 __ |a 本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论，第2-9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术，第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。针对每一种数字电路测试技术，本书一方面用示例讲述其技术原理，另一方面用电子设计自动化(EDA)的商业工具对具体实例演示技术应用过程(EDA工具应用脚本及其说明将作为本书附录在网站上提供下载)，并在章后附有习题。通过本书，读者一方面可以学习到基本的测试理论和相关技术；另一方面，还可以对当今芯片设计流程和EDA工具链中测试技术的运用和实践有所了解。

• 461 _0 |1 2001 |a 集成电路科学与技术丛书

• 517 1_ |a 理论、方法与实践

• 606 0_ |a 数字集成电路 |A Shu Zi Ji Cheng Dian Lu |x 测试技术

• 690 __ |a TN431.207 |v 5

• 701 _0 |a 李华伟 |A li hua wei |4 编著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20240918

• 905 __ |a HDUL |d TN431.207/422

• 920 __ |a 233030 |z 1