机读格式显示(MARC)
- 010 __ |a 978-7-03-027036-8 |b 精装 |d CNY78.00
- 100 __ |a 20100518d2010 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 半导体材料测试与分析 |A Ban Dao Ti Cai Liao Ce Shi Yu Fen Xi |f 杨德仁等著
- 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2010
- 215 __ |a 381页 |c 图 |d 25cm
- 225 2_ |a 半导体科学与技术丛书 |A Ban Dao Ti Ke Xue Yu Ji Shu Cong Shu
- 330 __ |a 半导体材料是微电子、光电子和太阳能等工业的基石,而其电学性能、光学性能和机械性能将会影响半导体器件的性能和质量,因此,半导体材料性能和结构的测试和分析,是半导体材料研究和开发的重要方面。本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术,涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容,包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试分析技术。
- 410 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书
- 606 0_ |a 半导体材料 |A Ban Dao Ti Cai Liao |x 测试
- 701 _0 |a 杨德仁 |A Yang De Ren |4 著
- 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20100920
- 905 __ |a HDUL |d TN304.07/422