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• 005 20170616093200.0

• 010 __ |a 978-7-312-03749-8 |d CNY99.00

• 100 __ |a 20170328d2017 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 340000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 材料的透射电子显微学与衍射学 |A Cai Liao De Tou She Dian Zi Xian Wei Xue Yu Yan She Xue |d Transmission electron microscopy and diffractometry of materials |f (美)布伦特·福尔兹(Brent Fultz)，(美)詹姆斯·豪(James Howe)著 |g 吴自勤[等]译 |z eng

• 210 __ |a 合肥 |c 中国科学技术大学出版社 |d 2017

• 215 __ |a 11,657页 |d 24cm

• 330 __ |a 本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜(TEM)和X-射线衍射(XRD)。与第三版相比，这一版所有章节都进行了更新和修订，并增加了与TEM有关的重要的新技术，如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解释了波与固体中原子相互作用的基本原理，以及利用X-射线、电子、中子衍射测量的相似点和区别，并对结晶序的衍射效应、缺陷和无序材料进行了详细解释。

• 510 1_ |a Transmission electron microscopy and diffractometry of materials |z eng

• 606 0_ |a 工程材料 |A Gong Cheng Cai Liao |x 透射电子显微术

• 606 0_ |a 工程材料 |A Gong Cheng Cai Liao |x X射线衍

• 690 __ |a TB302 |v 5

• 701 _0 |c (美) |a 福尔兹 |A Fu Er Zi |c (Fultz, Brent) |4 著

• 701 _0 |c (美) |a 豪 |A Hao |c (Howe, James) |4 著

• 702 _0 |a 吴自勤 |A Wu Zi Qin |4 译

• 801 _0 |a CN |b 浙江大涵文化 |c 20170602

• 905 __ |a HDUL |d TB302/328

• 920 __ |a 233030 |z 1