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• 200 1_ |a 电子设备板级可靠性工程 |A Dian Zi She Bei Ban Ji Ke Kao Xing Gong Cheng |f 王文利编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2024

• 215 __ |a 180页 |d 26cm

• 225 2_ |a 现代电子机械工程丛书 |A Xian Dai Dian Zi Ji Xie Gong Cheng Cong Shu

• 314 __ |a 王文利，男，1971年出生，工学博士、博士后、教授，主要从事电子可靠性研究。博士期间参与“500米口径大射电望远镜FAST”(天眼)项目研究，获省级科技进步一等奖；曾任职华为技术有限公司，主持建立公司工艺可靠性技术平台；先后主持和参与10 余项国家、省、市级项目，已发表相关论文40 余篇，出版专著及教材5部。

• 330 __ |a 随着电子设备的广泛应用，电子设备的可靠性已成为一个突出的问题，几乎所有的应用场合都要求电子设备必须稳定、可靠、安全地运行。本书针对电子设备板级可靠性工程问题，阐述了板级可靠性工程中需要开展的主要工作，包括选择可靠的元器件、可靠地使用元器件、板级可靠性工程设计(DFX)、板级组装工艺可靠性、单板常见失效模式及失效机理、板级可靠性试验与测试、板级失效分析等。通过选择可靠的元器件、开展可靠性设计、保障可靠性制造，达到保证板级可靠性的目的，同时，针对板级可靠性要求进行试验和测试、针对板级失效做好失效分析。

• 606 0_ |a 电子设备 |A Dian Zi She Bei |x 可靠性

• 690 __ |a TN02 |v 5

• 701 _0 |a 王文利 |A Wang Wen Li |4 编著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20241122

• 905 __ |a HDUL |d TN02/102

• 920 __ |a 233030 |z 1