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• 000 01186nam2 2200301 4500

• 001 0000158403

• 005 20050428092152.0

• 009 012003942298

• 010 __ |a 7-121-00379-1 |d CNY29.80

• 035 __ |a (110017)062002015270

• 100 __ |a 20050112d2005 em y0chiy0110 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a VLSI测试方法学和可测性设计 |A VLSI ce shi fang fa xue he ke ce xing she ji |9 VLSI ce shi fang fa xue he ke ce xing she ji |f 雷绍充等著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2005.1

• 215 __ |a 286页 |d 25cm

• 330 __ |a 本书系统介绍超大规模集成电路的测试方法学和可测性设计，主要内容为电路测试、分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测试设计，扫描和边界扫描理论以及专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。

• 606 0_ |a 超大规模集成电路 |A chao da gui mo ji cheng dian lu |x 测试技术

• 610 0_ |a VLSI |A VLS

• 690 __ |a TN47 |v 4

• 701 _0 |a 雷绍充 |A lei shao chong |9 lei shao chong |4 著

• 701 _0 |a 邵志标 |A shao zhi biao |9 shao zhi biao |4 著

• 701 _0 |a 梁峰 |A liang feng |9 liang feng |4 著

• 801 _0 |a CN |b 110017 |c 20050120

• 905 __ |a HIEL |d TN47/120

• 999 __ |a 24 |b 6 |e 05133