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- 010 __ |a 978-7-03-019462-6 |b 精装 |d CNY98.00
- 100 __ |a 20070918d2007 em y0chiy0110 ea
- 200 1_ |a 半导体的检测与分析 |A ban dao ti de jian ce yu fen xi |f 许振嘉主编
- 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2007
- 300 __ |a 中国科学院科学出版基金资助出版
- 330 __ |a 本书共分7章。内容包括:引论,半导体的高分辨X射线衍射,光学监测与分析,表面、薄膜成分分析,扫描探针显微学在半导体中的运用,透射电子显微学及其在半导体中的应用和半导体深中心的表征等。
- 461 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书
- 606 0_ |a 半导体材料 |x 检测 |x 分析
- 701 _0 |a 许振嘉 |A hu zhen jia |4 主编
- 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20080117
- 905 __ |a HDUL |d TN304.07/354