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• 010 __ |a 978-7-03-067328-2 |d CNY98.00

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 纳米级系统芯片单粒子效应研究 |A na mi ji xi tong xin pian dan li zi xiao ying yan jiu |f 贺朝会 ... [等] 著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2021

• 215 __ |a 191页 |c 图 |d 24cm

• 304 __ |a 著者还有: 杜雪成, 杨卫涛, 杜小智

• 320 __ |a 有书目 (第181-191页)

• 330 __ |a 本书主要介绍28nm系统芯片(SoC)的单粒子效应，内容包括SoC单粒子效应研究现状与测试系统的研制，SoC的a粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应软件加固方法研究；提出Xilinx Zynq-7000 SoC单粒子效应错误类型和单粒子效应规律；计算不同模块的单粒子效应截面和软错误率；揭示SoC的单粒子效应敏感模块和敏感区域分布特征；定量分析SoC系统、子系统和不同模块的故障频率、不可用度和平均故障间隔时间；提出几种SoC单粒子效应加固方法，并进行实验验证。

• 606 0_ |a 集成芯片 |A ji cheng xin pian |x 单粒子态 |x 研究

• 690 __ |a TN430.3 |v 5

• 701 _0 |a 贺朝会 |A he chao hui |4 著

• 701 _0 |a 杜雪成 |A du xue cheng |4 著

• 701 _0 |a 杨卫涛 |A yang wei tao |4 著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20210918

• 905 __ |a HDUL |d TN430.3/448

• 920 __ |a 233030 |z 1