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• 010 __ |a 978-7-03-021490-4 |d CNY62.00

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• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路系统设计、验证与测试 |A Ji Cheng Dian Lu Xi Tong She Ji、 Yan Zheng Yu Ce Shi |f (美)Louis Scheffer, (美)Luciano Lavagno, (美)Grabt Nartin著 |F ( Mei )Louis Scheffer, ( Mei )Luciano Lavagno, ( Mei )Grabt Nartin Zhu |g 陈力颖, 王猛译

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2008

• 215 __ |a 14, 470页 |c 图 |d 26cm

• 300 __ |a 集成电路EDA技术

• 320 __ |a 有书目(第448-450页)

• 330 __ |a 本书内容涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计等。

• 606 0_ |a 集成电路 |A Ji Cheng Dian Lu |x 电路设计

• 690 __ |a TN402 |v 4

• 701 _0 |a 谢费尔 |4 著

• 701 _1 |c (美) |a Scheffer |b L. |g (Scheffer, Louis) |4 著

• 701 _1 |c (美) |a Lavagno |b L. |g (Lavagno, Luciano) |4 著

• 701 _1 |c (美) |a Nartin |b G. |g (Nartin, Grabt) |4 著

• 702 _0 |a 陈力颖 |A Chen Li Ying |4 译

• 702 _0 |a 王猛 |A Wang Meng |4 译

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20081020

• 905 __ |a HDUL |d TN402/352

• 920 __ |a 233030 |z 1