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• 010 __ |a 978-7-312-04359-8 |d CNY30.00

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 数字电路老化预测与容忍 |A Shu Zi Dian Lu Lao Hua Yu Ce Yu Rong Ren |d = Prediction and tolerance on digital circuits aging |f 徐辉著 |z eng

• 210 __ |a 合肥 |c 中国科学技术大学出版社 |d 2018

• 215 __ |a 123页 |c 图 |d 24cm

• 300 __ |a 国家自然科学基金青年科学基金项目(61404001) 国家公派高级研究学者、访问学者、博士后 项目(201708340035)资助出版 安徽省高校省级自然科学研究重大项目(KJ2014ZD12)

• 320 __ |a 有书目 (第113-123页)

• 330 __ |a 本书围绕NBTI引起的集成电路老化的预测与动态电路老化防护来展开研究。研究的内容主要针对集成电路老化的预测和集成电路老化的容忍进行分析论述，对于高性能集成电路中常用的多米诺电路，针对其老化研究容忍方法，并提出对于多米诺电路低功耗与抗老化的联合优化方法。

• 510 1_ |a Prediction and tolerance on digital circuits aging |z eng

• 606 0_ |a 数字集成电路 |A Shu Zi Ji Cheng Dian Lu |x 研究

• 690 __ |a TN431.2 |v 5

• 701 _0 |a 徐辉 |A Xu Hui |4 著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20181016

• 905 __ |a HDUL |d TN431.2/290

• 920 __ |a 233030 |z 1