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- 010 __ |a 978-7-302-52299-7 |d CNY69.00
- 100 __ |a 20190617d2018 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化 |A na mi shu zi ji cheng dian lu de pian cha xiao ying fen xi yu you hua |e 从电路级到系统级 |f 靳松,韩银和著
- 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2019.05
- 330 __ |a 本文的主要内容涉及了在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应-负偏置温度不稳定性(Negative bias temperature instability–NBTI)和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响,并提出了从电路级到系统级的相应的分析、预测和优化方法。
- 333 __ |a 数字集成电路、逻辑集成电路研究人员
- 606 0_ |a 纳米材料 |A na mi cai liao |x 数字集成电路 |x 研究
- 701 _0 |a 靳松 |A jin song |4 著
- 701 _0 |a 韩银和 |A han yin he |4 著
- 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20190904
- 905 __ |a HDUL |d TN431.2/4401