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• 005 20140509105700.0

• 010 __ |a 978-7-122-18947-9 |d CNY49.00

• 100 __ |a 20140124d2013 em y0chiy0110 ea

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• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体化合物光电器件检测 |A ban dao ti hua he wu guang dian qi jian jian ce |b 专著 |f 许并社主编

• 210 __ |a 北京 |c 化学工业出版社 |d 2013

• 215 __ |a 258页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 半导体化合物研究与应用丛书 |A Ban Dao Ti Hua He Wu Yan Jiu Yu Ying Yong Cong Shu

• 300 __ |a 普通高等教育“十二五”规划教材

• 312 __ |a 封面英文题名：Photoelectric device detection and measurement of semiconductor compound

• 330 __ |a 本书主要介绍半导体材料和器件以及太阳能电池的各种测试分析技术，涉及扫描电子显微镜，高分辨透射电子显微镜，原子力显微镜，薄膜X射线衍射仪，光致发光光谱，电致发光光谱，霍尔效应等的测试原理、测试步骤和应用。

• 461 _0 |1 2001 |a 半导体化合物研究与应用丛书

• 510 1_ |a Photoelectric device detection and measurement of semiconductor compound |z eng

• 606 0_ |a 化合物半导体 |A Hua He Wu Ban Dao Ti |x 半导体光电器件 |x 检测 |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a TN36 |v 5

• 701 _0 |a 许并社 |A xu bing she |4 主编

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20140509

• 905 __ |a HDUL |d TN36/383

• 920 __ |a 233030 |z 1