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• 010 __ |a 978-7-122-45720-2 |d CNY58.00

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• 200 1_ |a X射线粉末衍射技术 |A X she xian fen mo yan she ji shu |d X-ray powder diffraction technology |e 测量与分析基础 |e fundamentals of measurement and analysis |f 王春建编著 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 化学工业出版社 |d 2024

• 215 __ |a 184页 |c 图 |d 24cm

• 330 __ |a 本书着重介绍衍射图谱的产生过程和各类影响因素，以及与物相分析功能的相关性。在测量技术方面，详细介绍了衍射仪中各类光路元器件的工作原理和参数设置，并对测量过程的每个环节进行了详细论述。在物相分析方面，针对最常用的物相鉴定功能开展了鉴定原理、鉴定方法、鉴定技巧、数据库应用等方面的详细论述，并为鉴定结果的可信度提出评估方法和依据；针对物相定量分析、微结构分析等深层次功能，由浅入深地介绍了数学原理的推导、功能发展的历程，以及部分案例的应用，并且论证了分析方法的简化过程等内容。最后对衍射仪的维护保养、X射线辐射安全等方面进行了详细介绍，并对X射线衍射技术的学习方法和技巧进行了深入讨论，总结性指出了技术能力晋升的途径。

• 510 1_ |a X-ray powder diffraction technology |e fundamentals of measurement and analysis |z eng

• 606 0_ |a X射线衍射分析 |A X She Xian Yan She Fen Xi |x 粉末衍射法

• 606 0_ |a X射线摄影测量 |A X She Xian She Ying Ce Liang |x 粉末衍射法

• 690 __ |a O434.1 |v 5

• 701 _0 |a 王春建 |A wang chun jian |f (1982-) |4 编著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20241018

• 905 __ |a HDUL |d O434.1/151

• 920 __ |a 233030 |z 1