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• 010 __ |a 978-7-03-018239-5 |d CNY45.00

• 100 __ |a 20070118e2007 em y0chiy0121 ba

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• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a a 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 片上系统设计 |A pian shang xi tong she ji |d Design of systems on a chip |e design and test |E design and tes |f 里卡多(Ricardo Reis)等著 |z chi

• 205 __ |a 影印版

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2007.1

• 215 __ |a 233页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 国外电子信息精品著作 |A guo wai dian zi xin xi jing pin zhu zuo

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书介绍了芯片核心设计、计算机辅助设计工具、芯片测试方法三个方面，尤其针对基于SRAM的可编程门阵列(FPGA)相关的容错技术设计和可测性设计进行了重点的讨论。

• 333 __ |a 该学科的专家、教授、研究生，本科生、普通技术人员

• 410 _0 |1 2001 |a 国外电子信息精品著作

• 510 1_ |a 片上系统设计 |z chi

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 芯片 |x 设计 |x 英文

• 690 __ |a TN402 |v 4

• 701 _1 |a 赖斯 |A lai si |b R. |g (Reis, Ricardo) |4 著

• 701 _1 |a 路巴斯维克 |A lu ba si wei ke |b M. |g (Lubaszewski, Marcelo) |4 著

• 701 _1 |a 杰斯 |A jie si |b J. A. G. |g (Jess, Jochen A. G.) |4 著

• 801 _0 |a CN |b QSSK |c 20070118

• 905 __ |a HIEL |d TN402/540

• 999 __ |a 24 |b 3 |e 07140