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• 010 __ |a 978-7-302-15529-4 |d CNY89.00

• 100 __ |a 20070915e2007 emky0chiy0120 ea

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 透射电子显微学 |A tou she dian zi xian wei xue |e 材料科学教材 |d Transmission electron microscopy |e a textbook for materials science |h 4卷本 |e [英文版] |f ( )威廉斯David B. Williams，C. Barry Carter[著] |z eng

• 205 __ |a 影印版

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2007

• 215 __ |a 27,729页 |c 图表 |d 28cm

• 225 2_ |a 国外大学优秀教材——材料和学与工程系列

• 304 __ |a 责任者汉译姓取自CIP

• 305 __ |a 本书英文影印版由Springer-Verlag授权出版

• 320 __ |a 本书附有书目及索引

• 330 __ |a 本卷讨论各种能谱的分析方法与技术。比如X射线谱、X射线定量定性分析、电子能量损失谱、离子能量损失谱等。

• 410 _0 |1 2001 |a 国外大学优秀教材——材料科学与工程系列

• 510 1_ |a Transmission electron microscopy |e a textbook for materials science |z eng

• 606 0_ |a 透射电子显微术 |x 高等学校 |j 教材

• 606 0_ |a 透射电子显微术

• 690 __ |a O766 |v 4

• 701 _0 |a 威廉斯 |A wei lian si |c (Williams, David B.) |4 著

• 701 _0 |a 卡特 |A ka te |c (Carter, C. Barry ) |4 著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20071219

• 905 __ |a HDUL |d O766/504

• 920 __ |a 233030 |z 1