机读格式显示(MARC)

• 000 01074nam0 2200265 450

• 001 0000575447

• 005 20151105090200.0

• 010 __ |a 978-7-5612-4253-7 |d CNY30.00

• 100 __ |a 20150402d2015 em y0chiy0110 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 610000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a Lattice可编程器件测试技术 |A Lattice ke bian cheng qi jian ce shi ji shu |b 专著 |f 吴丹，石坚，周红著

• 210 __ |a 西安 |c 西北工业大学出版社 |d 2015

• 215 __ |a 49页 |d 23cm

• 330 __ |a 本书从工程实际应用出发，对Lattice可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论。主要内容包括针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的功能测试生成算法、保证测试向量和测试程序开发效率和质量的可编程器件测试技术规范、研究结论及结果分析等。

• 606 0_ |a 可编程序逻辑阵列 |A Ke Bian Cheng Xu Luo Ji Zhen Lie |x 测试技术

• 690 __ |a TP332.1 |v 5

• 701 _0 |a 吴丹 |A wu dan |4 著

• 701 _0 |a 石坚 |A shi jian |4 著

• 701 _0 |a 周红 |A zhou hong |4 著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20150917

• 905 __ |a HDUL |d TP332.1/670

• 920 __ |a 233030 |z 1