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• 200 1_ |a 数字集成电路测试优化 |A Shu Zi Ji Cheng Dian Lu Ce Shi You Hua |e 测试压缩、测试功耗优化、测试调度 |f 李晓维 ... [等] 著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2010

• 215 __ |a 344页 |c 图 |d 24cm

• 300 __ |a 中国科学院科学出版基金资助出版

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面：测试数据压缩、测试功耗优化、测试调度，包括测试数据压缩的基本原理、激励压缩的有效方法、测试响应压缩方法和电路结构等。

• 517 1_ |a 测试压缩、测试功耗优化、测试调度 |A Ce Shi Ya Suo 、ce Shi Gong Hao You Hua 、ce Shi Diao Du

• 606 0_ |a 数字集成电路 |A shu zi ji cheng dian lu |x 测试技术

• 690 __ |a TN431.2 |v 4

• 701 _0 |a 李晓维 |A Li Xiao Wei |4 著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20101019

• 905 __ |a HDUL |d TN431.2/4621.2

• 920 __ |a 233030 |z 1