机读格式显示(MARC)

• 000 00979nam2 2200265 4500

• 001 0000210037

• 005 20070109080431.0

• 010 __ |a 7-118-04619-1 |d CNY150.00

• 100 __ |a 20061115d2006 em y0chiy0121 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子元器件失效分析与典型案例 |A dian zi yuan qi jian shi xiao fen xi yu dian xing an li |f 孔学东，恩云飞主编 |F Kong Xue Dong， En Yun Fei Zhu Bian

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2006.9

• 215 __ |a 12,260页 |c 图 |d 26cm

• 330 __ |a 本书系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。内容包括：失效分析程序、失效分析技术、集成电路的失效分析典型案例等。

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian |x 失效分析

• 606 0_ |a 电子器件 |A dian zi qi jian |x 失效分析

• 690 __ |a TN601 |v 4

• 701 _0 |a 孔学东 |A kong xue dong |4 主编

• 701 _0 |a 恩云飞 |A en yun fei |4 主编

• 801 _0 |a CN |b JG |c 20061115

• 905 __ |a HIEL |d TN601/194

• 999 __ |a 31 |b 1 |e 07007