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• 010 __ |a 978-7-03-047222-9 |b 精装 |d CNY128.00

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• 200 1_ |a 半导体光谱测试方法与技术 |A ban dao ti guang pu ce shi fang fa yu ji shu |b 专著 |f 张永刚，顾溢，马英杰著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2016

• 215 __ |a 331页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 半导体科学与技术丛书 |A Ban Dao Ti Ke Xue Yu Ji Shu Cong Shu

• 330 __ |a 本书在回顾光谱学和光谱仪器的发展过程后，对半导体中涉及的主要光学过程以及半导体材料、器件及应用研究中需要哪些光谱分析手段和方法作了简要介绍，然后以分光（色散）和傅里叶变换两种方法为基础讨论了光谱分析的基本原理、测试仪器、关键部件、系统构成以及限制因素等，并结合一系列测量实例对吸收谱类、光电谱类和发射谱类测量方法与技术及相关细节进行了说明。

• 461 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书

• 606 0_ |a 半导体 |A Ban Dao Ti |x 光谱分析

• 690 __ |a O472 |v 5

• 701 _0 |a 张永刚 |A zhang yong gang |4 著

• 701 _0 |a 顾溢 |A gu yi |4 著

• 701 _0 |a 马英杰 |A ma ying jie |4 著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20160527

• 905 __ |a HDUL |d O472/137

• 920 __ |a 233030 |z 1