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• 000 01506nam0 2200313 450

• 001 0000607158

• 005 20160414161300.0

• 010 __ |a 978-7-04-043150-6 |b 精装 |d CNY109.00

• 100 __ |a 20160126d2015 em y0chiy0110 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 透射电子显微学 |A tou she dian zi xian wei xue |h 上册 |b 专著 |f David B. Williams，C. Barry Carter著 |g 李建奇译

• 210 __ |a 北京 |c 高等教育出版社 |d 2015

• 215 __ |a 592页 |c 图 |d 24cm

• 300 __ |a 材料科学经典著作选译

• 304 __ |a 英文共同题名：Transmission electron microscopy

• 305 __ |a 据原书第2版译出

• 330 __ |a 本书对透射电子显微镜的构造、实验技术的原理和应用进行了详细介绍。全书共4篇，第1篇主要介绍一些与透射电子显微镜相关的基本概念，包括电子衍射的基础知识、仪器的构造与功能，以及透射电子显微镜样品的制备等；第2篇主要介绍电子衍射的基本原理、不同的电子衍射实验技术，以及对电子衍射的理论描述；第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术，以及对实验图像的处理、分析和理论模拟；第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用，以及与之相关的各种实验技术。

• 510 1_ |a Transmission electron microscopy |z eng

• 606 0_ |a 透射电子显微术 |A Tou She Dian Zi Xian Wei Shu |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a O766 |v 5

• 701 _0 |c (美) |a 威廉斯 |A wei lian si |c (Williams, David B.) |4 著

• 701 _0 |c (美) |a 卡特 |A ka te |c (Carter, C. Barry) |4 著

• 702 _0 |a 李建奇 |A li jian qi |4 译

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20160414

• 905 __ |a HDUL |d O766/504.2:V1

• 920 __ |a 233030 |z 1