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• 010 __ |a 978-7-5603-3648-0 |d CNY20.00

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• 200 1_ |a 半导体物理与测试分析 |A ban dao ti wu li yu ce shi fen xi |d = Semiconductor physics and tesing analysis |f 主编谭昌龙 |z eng

• 210 __ |a 哈尔滨 |c 哈尔滨工业大学出版社 |d 2012

• 215 __ |a 152页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 电子与通信工程系列 |A dian zi yu tong xin gong cheng xi lie

• 300 __ |a “十二五”国家重点图书出版规划项目

• 320 __ |a 有书目 (第151-152页)

• 330 __ |a 本书主要内容包括: 半导体的基本性质 ; 半导体中杂质和缺陷能级, 以及硅中位错和层错的观察 ; 平衡态半导体中载流子的统计分面等。

• 410 _0 |1 2001 |a 电子与通信工程系列

• 510 1_ |a Semiconductor physics and tesing analysis |z eng

• 606 0_ |a 半导体物理学 |A ban dao ti wu li xue |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a O47 |v 5

• 701 _0 |a 谭昌龙 |A tan chang long |4 主编

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20130402

• 905 __ |a HDUL |d O47/364

• 920 __ |a 233030 |z 1