机读格式显示(MARC)

• 000 01341nam 2200313 450

• 001 0000729634

• 005 20190114091800.0

• 010 __ |a 978-7-121-33485-6 |d CNY98.00

• 100 __ |a 20181220d2019 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子元器件检验技术 |A dian zi yuan qi jian jian yan ji shu |i 测试部分 |f 工业和信息化部电子第五研究所组编 |g 王晓晗, 罗宏伟编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2019

• 215 __ |a xi, 382页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A ke kao xing ji shu cong shu

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上, 结合我国电子元器件产业现状, 从电子元器件检验和生产行业出发, 围绕电子元器件检验主题, 详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系, 重点介绍了集成电路、半导体分立器件等十大类基本电子元器件的参数测试方法, 同时将团队多年来实际工作中的工程应用经验进行了概况总结。

• 410 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 517 1_ |a 测试部分 |A ce shi bu fen

• 606 0_ |a 电子元器件 |A dian zi yuan qi jian |x 测试技术

• 690 __ |a TN606 |v 5

• 702 _0 |a 王晓晗 |A wang xiao han |4 编著

• 702 _0 |a 罗宏伟 |A luo hong wei |4 编著

• 711 02 |a 工业和信息化部电子第五研究所 |A gong ye he xin xi hua bu dian zi di wu yan jiu suo |4 组编

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20190114

• 905 __ |a HDUL |d TN606/132

• 920 __ |a 233030 |z 1