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- 010 __ |a 978-7-5693-0218-9 |d CNY128.00
- 100 __ |a 20180312d2017 em y0chiy0121 ea
- 200 1_ |a 半导体材料与器件表征 |A ban dao ti cai liao yu qi jian biao zheng |f (美) 迪特尔·K·施罗德著 |d Semiconductor material and device characterization |f Dieter K. Schroder |g 徐友龙 ... [等] 译 |z eng
- 210 __ |a 西安 |c 西安交通大学出版社 |d 2017
- 215 __ |a 10, 714页 |c 图 |d 26cm
- 225 2_ |a 国外名校最新教材精选 |A guo wai ming xiao zui xin jiao cai jing xuan
- 304 __ |a 题名页题: 徐友龙, 任巍, 王杰, 阙文修, 汪敏强等译
- 314 __ |a 迪特尔·K·施罗德 (Dieter K. Schroder), 博士, 美国亚利桑那州立大学电气工程系教授。
- 330 __ |a 本书涉及到半导体材料与器件所有方面的表征手段和方法, 是学习、研究、制造和测试半导体材料与器件不可多得的教科书和参考书。
- 410 _0 |1 2001 |a 国外名校最新教材精选
- 500 10 |a Semiconductor material and device characterization |A Semiconductor Material And Device Characterization |m Chinese
- 606 0_ |a 半导体材料 |A ban dao ti cai liao |x 研究
- 701 _1 |a 施罗德 |A shi luo de |g (Schroder, Dieter K.) |4 著
- 702 _0 |a 徐友龙 |A xu you long |4 译
- 702 _0 |a 任巍 |A ren wei |4 译
- 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20180423
- 905 __ |a HDUL |d TN304/062.2