机读格式显示(MARC)

• 000 01280nam 2200301 450

• 001 0000388982

• 005 20110930110700.0

• 010 __ |a 978-7-5124-0136-5 |d CNY35.00

• 100 __ |a 20100823d2010 em y0chiy0121 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子元器件可靠性技术教程 |A dian zi yuan qi jian ke kao xing ji shu jiao cheng |f 付桂翠 ... [等] 编著

• 210 __ |a 北京 |c 北京航空航天大学出版社 |d 2010

• 215 __ |a 273页 |c 图 |d 23cm

• 225 2_ |a 普通高校“十一五”规划教材 |A pu tong gao xiao shi yi wu gui hua jiao cai

• 320 __ |a 有书目 (第271-273页)

• 330 __ |a 本书针对元器件的固有可靠性和使用可靠性的保证技术进行了分类介绍。在固有可靠性保证中主要介绍了元器件的制造工艺、封装技术、失效机理、可靠性试验技术等。在使用可靠性保证中主要介绍了元器件选用控制、使用设计方法、静电防护、可靠性筛选、破坏性物理分析及失效分析技术等。

• 410 _0 |1 2001 |a 普通高校“十一五”规划教材

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian |x 可靠性 |x 高等学校 |j 教材

• 606 0_ |a 电子器件 |A dian zi qi jian |x 可靠性 |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a TN6 |v 4

• 701 _0 |a 付桂翠 |A fu gui cui |4 编著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20110930

• 856 4_ |u http://www.bookuu.com/kgsm/ts/2010/08/17/1816051.shtml

• 905 __ |a HDUL |d TN6/241

• 920 __ |a 233030 |z 1