机读格式显示(MARC)

• 000 01663nam 2200337 450

• 001 0000701151

• 005 20180330133000.0

• 010 __ |a 978-7-111-58286-1 |d CNY79.00

• 100 __ |a 20171228d2018 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 嵌入式系统中的辐射效应 |A qian ru shi xi tong zhong de fu she xiao ying |f (法) 拉乌尔·委拉兹克, (法) 帕斯卡·弗埃雷特, (巴西) 里卡多·赖斯等著 |d = Radiation effects on embedded systems |f Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Reis |g 黄云 ... [等] 译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2018

• 215 __ |a xi, 234页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 国际电气工程先进技术译丛 |A guo ji dian qi gong cheng xian jin ji shu yi cong

• 306 __ |a 由Springer出版社授权出版 本书限中国大陆发行

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面介绍了嵌入式系统中的辐射效应，主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。

• 410 _0 |1 2001 |a 国际电气工程先进技术译丛

• 500 10 |a Radiation effects on embedded systems |A Radiation effects on embedded systems |m Chinese

• 606 0_ |a 微型计算机 |A wei xing ji suan ji |x 系统设计

• 690 __ |a TP360.21 |v 5

• 701 _1 |a 委拉兹克 |A wei la zi ke |g (Velazco, Raoul) |4 著

• 701 _1 |a 弗埃雷特 |A fu ai lei te |g (Fouillat, Pascal) |4 著

• 701 _1 |a 赖斯 |A lai si |g (Reis, Ricardo) |4 著

• 702 _0 |a 黄云 |A huang yun |4 译

• 801 _0 |a CN |b 浙江省新华书店集团公司 |c 20171228

• 905 __ |a HDUL |d TP360.21/258

• 920 __ |a 233030 |z 1