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• 000 01444nam0 2200277 450

• 001 0000909837

• 005 20230922164000.0

• 010 __ |a 978-7-5770-0163-0 |d CNY68.00

• 100 __ |a 20230725d2023 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 510000

• 105 __ |a a a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路测试原理 |A ji cheng dian lu ce shi yuan li |f 戴志坚, 王厚军主编

• 210 __ |a 成都 |c 电子科技大学出版社 |d 2023

• 215 __ |a 204页 |c 图 |d 26cm

• 314 __ |a 戴志坚, 1968年生, 电子科技大学测试计量技术及仪器专业硕士, 现为电子科技大学 (深圳) 高等研究院集成电路测试技术重点实验室主任, 教授级高工。王厚军, 1961年生, 电子科技大学信号与信息处理专业博士, 现为电子科技大学 (深圳) 高等研究院集成电路测试技术重点实验室学术带头人, 教授。

• 320 __ |a 有书目 (第204页)

• 330 __ |a 本书详细介绍了集成电路测试的基本原理、测试系统和测试开发方法。首先介绍了集成电路测试的相关概念和术语, 集成电路测试的最新发展趋势 ; 其次详细介绍了集成电路直流参数测试和模拟集成电路测试的基本方法 ; 再次介绍了数字集成电路的基本测试方法, 然后在此基础上重点介绍了数模混合电路 (ADC/DAC) 测试方法。此外, 本书还对集成电路测试系统 (ATE) 的结构和工作原理、测试接口板 (DIB) 和测试程序开发做了介绍。

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 电路测试 |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 戴志坚 |A dai zhi jian |f 1968- |4 主编

• 701 _0 |a 王厚军 |A wang hou jun |f 1961- |4 主编

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20230922

• 905 __ |a HDUL |d TN407/442

• 920 __ |a 233030 |z 1